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Mit Hilfe des Atomic Force Microscopes (AFM) Multimode 8 der Fa. Bruker können sowohl topographische als auch mechanische Untersuchungen durchführt werden. Neben den herkömmlichen Verfahren im Kontakt- oder Tapping-Mode an Luft besteht auch die Möglichkeit, in einer Flüssigkeitszelle in wässriger Umgebung zu messen. Abhängig vom Scanner erstreckt sich der Messbereich von 120µm bis in den nm-Bereich. Die angeschlossene Temperiereinheit erlaubt die Untersuchung der topographischen oder mechanischen Spezifikationen bei Temperaturen zwischen -35 und +100°C. Das Peak Force QNM Programm ermöglicht gleichzeitige quantitative Messungen von nanoskaligen Materialeigenschaften wie Young-Modul (Elastizität), Adhäsion, Deformation und Dissipation (Energieverlust).

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Das AFM von JPK ist ein durch einen Linux-Rechner gesteuerter Top-Scanner. Der Cantilever ist auf einem Glasblock montiert und erlaubt einen optischen Zugang. Mit diesem Aufbau ist es möglich, in Flüssigkeiten (Wasser) sowie an Luft zu messen. Sowohl AC Modus, als auch QI Modus sind verfügbar. Der letztere nutzt die Messung von Kraft-Abstandskurven zur Bildgebung und ermöglicht die Bestimmung mechanischer Eigenschaften. Der automatisierte Tisch ermöglicht es, mit Hilfe von Skripten statistische Untersuchungen der Oberflächen durchzuführen. Etwas spezieller sind die möglichen elektrischen Modi, die aber leitfähige Spitzen benötigen. So ist es beispielsweise möglich, die Austrittsarbeit oder elektrische Inhomogenitäten zu ermitteln.

Gerätespezifika: 30 µm × 30 µm Scanner, motorisierter XY-Tisch, TopView Optik, „Kelvin-Probe“ und Leitfähigkeits AFM Modul. AC Modus und QI advanced Modus sind verfügbar.

Das AFM steht im Reinraum (1.2.12) der AG Bolotin, FB Physik, Arminallee 14. Eine Belehrung über das Arbeiten in Reinräumen sowie eine Geräteeinweisung sind notwendig.

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