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Rasterkraftmikroskopie

AFM Multimode 8 Bruker

Mit Hilfe des Atomic Force Microscopes (AFM) Multimode 8 der Fa. Bruker können sowohl topographische als auch mechanische Untersuchungen durchführt werden. Neben den herkömmlichen Verfahren im Kontakt- oder Tapping-Mode an Luft besteht auch die Möglichkeit, in einer Flüssigkeitszelle in wässriger Umgebung zu messen. Abhängig vom Scanner erstreckt sich der Messbereich von 120µm bis in den nm-Bereich. Die angeschlossene Temperiereinheit erlaubt die Untersuchung der topographischen oder mechanischen Spezifikationen bei Temperaturen zwischen -35 und +100°C. Das Peak Force QNM Programm ermöglicht gleichzeitige quantitative Messungen von nanoskaligen Materialeigenschaften wie Young-Modul (Elastizität), Adhäsion, Deformation und Dissipation (Energieverlust).